Microscopic identification of electronic defects in semiconductors: symposium held April 15 - 18, 1985, San Francisco, California, U.S.A.

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften:	Johnson, Noble M. (HerausgeberIn), Materials Research Society (Sonstige)
Weitere Verfasser:	Johnson, Noble M. [HerausgeberIn]
Format:	Buch Konferenzbericht
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. Materials Research Society 1985
Gesamtaufnahme:	Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 46
Schlagwörter:	Semiconductors > Defects > Congresses Semiconductors > Microscopy > Congresses Konferenzschrift Halbleiter > Gitterbaufehler > Mikroskopie
Quelle:	Verbunddaten SWB
Signatur:	90.4285 8.
Standort:	90.4285 8.
ISBN:	0931837111

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