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Materialkundliche Gefüge-, Bruch- und Oberflächenuntersuchungen in Produktion und Schadensforschung: Berichtsband der 10. Sitzung des Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materi...

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Vetters, Hermann (VerfasserIn), Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung (Sonstige), Deutscher Verband für Materialprüfung (Sonstige)
Weitere Verfasser: Vetters, Hermann [VerfasserIn]
Format: Buch Konferenzbericht
Sprache: Deutsch
veröffentlicht:
Berlin DVM 1982
Gesamtaufnahme: Deutscher Verband für Materialprüfung: Berichtsband der ... Sitzung des Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung ; 10
Schlagwörter:
Quelle: Verbunddaten SWB
Fachgebiet: DK 620.1
DK 620.22
DK 620.18
DK 620.187
DK 537.533.35
DK 539.42
DK 539.211
Signatur: 06.4227 4.
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