Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopi...

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften:	Wittorf, Dirk (VerfasserIn)
Hochschulschriftenvermerk:	Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999
Format:	Buch Hochschulschrift
Sprache:	Deutsch
veröffentlicht:	Jülich Forschungszentrum, Zentralbibliothek 1999
Gesamtaufnahme:	Forschungszentrum Jülich: Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3637
Schlagwörter:	Hochschulschrift Forschungsbericht Diamant > Dünne Schicht > CVD-Verfahren > Silicium > Mikrostruktur > Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Quelle:	Verbunddaten SWB
Fachgebiet:	DK 539.23 DK 621.793.1 DK 546.26-162 DK 620.18 DK 378.245
Signatur:	99.3220 4.
Standort:	99.3220 4.

Online

http://hdl.handle.net/2128/4434

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