Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften:	Hübner, Uwe (VerfasserIn)
Hochschulschriftenvermerk:	Zugl.: Paderborn, Univ., Diss., 1993
Format:	Buch Hochschulschrift
Sprache:	Deutsch
veröffentlicht:	München, Wien Oldenbourg 1994
Gesamtaufnahme:	Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: Berichte der Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung ; 226
Schlagwörter:	Bericht Hochschulschrift VLSI > CMOS-Schaltung > Partitionierung > Testmustergenerierung
Quelle:	Verbunddaten SWB
Fachgebiet:	DK 621.38.049.77
Signatur:	95.278 8.
Standort:	95.278 8.
ISBN:	3486229265