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High resolution focused ion beams: FIB and its applications: the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Orloff, Jon (VerfasserIn), Utlaut, Mark (VerfasserIn), Swanson, Lynwood (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Utlaut, Mark [VerfasserIn] • Swanson, Lynwood [VerfasserIn]
Ausgabe: Softcover repr. of the hardcover 1. ed.
Format: Buch
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
New York, NY [u.a.] Springer Science + Business Media 2003
Schlagwörter:
Quelle: Verbunddaten SWB
Fachgebiet: DK 538.9
DK 537.534
DK 539.2
DK 543.51
DK 620.1
Signatur: 14.5446 8.
ISBN: 9781461352297

Hauptbibliothek

14.5446/18. Ausgeliehen  – Fällig am: 08.07.2024  Vormerken
Anmerkungen:
  • Vormerkung möglich
Regalstandort: Lesesaal (LS) ⋅ 537/538 Orl