Eintrag weiter verarbeiten
Failure stress of epitaxial silicon thin films
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Energy Procedia 38 (2013), S. 926-932 |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , , , |
Weitere Verfasser: | Kajari-Schröder, Sarah [VerfasserIn] • Niendorf, Thomas [VerfasserIn] • Brendel, Rolf [VerfasserIn] |
Format: | E-Book Sonderdruck |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Hannover
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
2013
Hannover Technische Informationsbibliothek (TIB) 2013 Hannover Leibniz Universität Hannover |
Gesamtaufnahme: |
Failure stress of epitaxial silicon thin films; 38 (2013), S. 926-932
|
Quelle: | Verbunddaten SWB Lizenzfreie Online-Ressourcen |