Control of semiconductor surfaces and interfaces: Symposium [on "Control of Semiconductor Surfaces and Interfaces"], held December 2 - 5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A. [held...

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Personen und Körperschaften:	Prokes, S. M. (Sonstige), Materials Research Society (Sonstige), Symposium on Control of Semiconductor Surfaces and Interfaces (Sonstige)
Weitere Verfasser:	Prokes, S. M. [Sonstige]
Format:	Buch Konferenzbericht
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. Materials Research Soc. 1997
Gesamtaufnahme:	Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 448
Schlagwörter:	Semiconductors > Surfaces > Congresses Semiconductors > Junctions > Congresses Crystal growth > Congresses Surface chemistry > Congresses Konferenzschrift > 1996 > Boston, Mass. Konferenzschrift Halbleiteroberfläche Halbleitergrenzfläche
Quelle:	Verbunddaten SWB
Fachgebiet:	DK 621.315.592 DK 541.183 DK 539.23 DK 621.793 DK 621.785
Signatur:	97.7804 8.
Standort:	97.7804 8.
ISBN:	1558993525