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Scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis
Gespeichert in:
| Personen und Körperschaften: | |
|---|---|
| Ausgabe: | 2., completely rev. and updated ed. |
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| veröffentlicht: |
Berlin, Heidelberg [u.a.]
Springer
1998
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| Gesamtaufnahme: |
Springer series in optical sciences ; 45
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| Schlagwörter: | |
| Quelle: | Verbunddaten SWB |
| Fachgebiet: |
DK 537.533.35 DK 620.187 DK 621.385.833 |
| Signatur: | 98.9363 8. |
| Standort: | 98.9363 8. |
| ISBN: |
3540639764
9783642083723 |
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