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Determining nanoscale physical properties of materials by microscopy and spectroscopy: symposium held November 29 - December 3, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Sarikaya, Mehmet (HerausgeberIn), Wickramasinghe, H. Kumar (Sonstige), Isaacson, Michael Saul (Sonstige), Materials Research Society (Sonstige)
Weitere Verfasser: Sarikaya, Mehmet [HerausgeberIn] • Wickramasinghe, H. Kumar [Sonstige] • Isaacson, Michael Saul [Sonstige]
Format: Buch Konferenzbericht
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Pittsburgh, Pa. Materials Research Society 1994
Gesamtaufnahme: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 332
Schlagwörter:
Nanostructures > Analysis > Congresses
Spectrum analysis > Congresses
Microscopy > Technique > Congresses
Spectrum > Congresses
Konferenzschrift > 1993 > Boston, Mass.
Konferenzschrift
Physikalische Eigenschaft > Festkörperphysik
Nanostrukturiertes Material > Spektroskopie > Elektronenmikroskopie
Quelle: Verbunddaten SWB
Fachgebiet: DK 539.2
DK 681.723
DK 539.25
DK 543.4
Signatur: 96.5009 8.
Standort: 96.5009 8.
ISBN: 1558992316

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