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Characterization of radiation damage by transmission electron microscopy

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Jenkins, Mike L. (VerfasserIn), Jenkins, M. L. (VerfasserIn), Kirk, M. A. (Sonstige), Kirk, Mark A. (Sonstige)
Weitere Verfasser: Jenkins, M. L. 1949- [VerfasserIn] • Kirk, M. A. 1942- [Sonstige] • Kirk, Mark A. 1942- [Sonstige]
Format: Buch
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Bristol [England] [u.a.] Institute of Physics Publ. c2001
Gesamtaufnahme: Series in microscopy in materials science
Schlagwörter:
Materials > Effect of radiation on
Materials > Microscopy
Transmission electron microscopy
Werkstoffschädigung > Strahlenschaden > Mikrostruktur > Durchstrahlungselektronenspektroskopie
Quelle: Verbunddaten SWB
Fachgebiet: DK 620.187
DK 620.22
DK 537.533.35
DK 539.27
DK 539.16
DK 537.533
Signatur: 01.2504 8.
Standort: 01.2504 8.
ISBN: 075030748X