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Anomalous X-ray scattering for materials characterization: atomic-scale structure determination
Gespeichert in:
Personen und Körperschaften: | |
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Format: | Buch |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Berlin, Heidelberg [u.a.]
Springer
2002
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Gesamtaufnahme: |
Physics and astronomy online library
Springer tracts in modern physics ; 179 |
Schlagwörter: | |
Quelle: | Verbunddaten SWB |
Fachgebiet: |
DK 539.26 DK 537.531 DK 620.22 DK 539.23 |
Signatur: | 02.5816 8. |
ISBN: |
3540434437
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Online
https://swbplus.bsz-bw.de/bsz100589170cov.jpghttps://swbplus.bsz-bw.de/bsz100589170inh.htm
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0816/2002030444-d.html
Hauptbibliothek
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