Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften:	Fultz, Brent (VerfasserIn), Howe, James M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Howe, James M. 1955- [VerfasserIn]
Ausgabe:	3. ed.
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg [u.a.] Springer 2008
Schlagwörter:	X-rays > Diffraction Transmission electron microscopy Durchstrahlungselektronenmikroskopie Röntgendiffraktometrie
Quelle:	Verbunddaten SWB
Fachgebiet:	DK 620.187 DK 620.179.15 DK 620.179.152 DK 537.533 DK 621.385.833 DK 539.26 DK 548.734 DK 620.22
Signatur:	07.6989 8.
Standort:	07.6989 8.
ISBN:	3540738851 9783540738855 9783540437642

Weitere Ausgaben

Erscheint auch als:	Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials, Third Edition, Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2008, Online-Ressource (digital)

Online

https://swbplus.bsz-bw.de/bsz271539909cov.jpg

Hauptbibliothek

07.6989/18.	Nur Präsenznutzung Regalstandort: Lesesaal (LS) ⋅ 620.18 Ful Regalstandort
07.6989/28.	Ausgeliehen – Fällig am: 22.09.2026 Vormerken Anmerkungen: Vormerkung möglich Regalstandort: Lesesaal (LS) ⋅ 620.18 Ful
07.6989/38.	Verfügbar Regalstandort: Lesesaal (LS) ⋅ 620.18 Ful Regalstandort