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Evaluation on residual stress in Bi3.15(Eu0.7Nd0.15)Ti3O12 polycrystalline ferroelectric thin film by using the orientation average method

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Applied Physics Letters
Personen und Körperschaften: Wei, Y., Cheng, H. B., Wang, X. Y., Zheng, X. J.
In: Applied Physics Letters, 101, 2012, 23
Format: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
AIP Publishing
Schlagwörter: