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Evaluation on residual stress in Bi3.15(Eu0.7Nd0.15)Ti3O12 polycrystalline ferroelectric thin film by using the orientation average method
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Applied Physics Letters |
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Personen und Körperschaften: | , , , |
In: | Applied Physics Letters, 101, 2012, 23 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
AIP Publishing
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Schlagwörter: |