Defect engineering for high quality InP epitaxially grown on on-axis (001) Si

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Bibliographische Detailangaben

Zeitschriftentitel:	Journal of Applied Physics
Personen und Körperschaften:	Shi, Bei, Klamkin, Jonathan
In:	Journal of Applied Physics, 127, 2020, 3
Format:	E-Article
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	AIP Publishing
Schlagwörter:	General Physics and Astronomy