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Probing interlayer excitons in a vertical van der Waals p-n junction using a scanning probe microscopy technique
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Physics: Condensed Matter |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , |
In: | Journal of Physics: Condensed Matter, 31, 2019, 11, S. 114001 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |