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Probing interlayer excitons in a vertical van der Waals p-n junction using a scanning probe microscopy technique

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Physics: Condensed Matter
Personen und Körperschaften: Rahaman, Mahfujur, Wagner, Christian, Mukherjee, Ashutosh, Lopez-Rivera, Adan, Gemming, Sibylle, Zahn, Dietrich R T
In: Journal of Physics: Condensed Matter, 31, 2019, 11, S. 114001
Format: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: