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Characterisation of strip silicon detectors for the ATLAS Phase-II Upgrade with a micro-focused X-ray beam
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Instrumentation |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , |
In: | Journal of Instrumentation, 11, 2016, 7, S. P07023-P07023 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |