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Characterisation of strip silicon detectors for the ATLAS Phase-II Upgrade with a micro-focused X-ray beam

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Instrumentation
Personen und Körperschaften: Poley, L., Blue, A., Bates, R., Bloch, I., Díez, S., Fernandez-Tejero, J., Fleta, C., Gallop, B., Greenall, A., Gregor, I.-M., Hara, K., Ikegami, Y., Lacasta, C., Lohwasser, K., Maneuski, D., Nagorski, S., Pape, I., Phillips, P.W., Sperlich, D., Sawhney, K., Soldevila, U., Ullan, M., Unno, Y., Warren, M.
In: Journal of Instrumentation, 11, 2016, 7, S. P07023-P07023
Format: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
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