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Erratum: Performance of capacitively coupled active pixel sensors in 180 nm HV-CMOS technology after irradiation to HL-LHC fluences

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Instrumentation
Personen und Körperschaften: Feigl, S
In: Journal of Instrumentation, 12, 2017, 3, S. E03001-E03001
Format: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: