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Monitoring single event upsets in SRAM-based FPGAs at the SuperKEKB interaction point

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Instrumentation
Personen und Körperschaften: Giordano, R., Tortone, G., Perrella, S., Izzo, V., Aloisio, A.
In: Journal of Instrumentation, 12, 2017, 7, S. C07039-C07039
Format: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: