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A comparative study of the TID radiation effects on ASICs manufactured in 180 nm commercial technologies

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Instrumentation
Personen und Körperschaften: Marcisovska, M., Benka, T., Havranek, M., Hejtmanek, M., Janoska, Z., Kafka, V., Marcisovsky, M., Neue, G., Popule, J., Svihra, P., Tomasek, L., Vancura, P., Vrba, V.
In: Journal of Instrumentation, 13, 2018, 12, S. C12003-C12003
Format: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: