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A comparative study of the TID radiation effects on ASICs manufactured in 180 nm commercial technologies
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Instrumentation |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , , , , , , , |
In: | Journal of Instrumentation, 13, 2018, 12, S. C12003-C12003 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |