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Electrical characterization of AMS aH18 HV-CMOS after neutrons and protons irradiation

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Instrumentation
Personen und Körperschaften: Sultan, DMS, Sevilla, S. Gonzalez, Ferrere, D., Iacobucci, G., Zaffaroni, E., Wong, W., Pinto, M.V. Barrero, Kiehn, M., Prathapan, M., Ehrler, F., Peric, I., Miucci, A., Anders, J. Kenneth, Fehr, A., Weber, M., Schoening, A., Herkert, A., Augustin, H., Benoit, M.
In: Journal of Instrumentation, 14, 2019, 5, S. C05003-C05003
Format: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: