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Electrical characterization of AMS aH18 HV-CMOS after neutrons and protons irradiation
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Instrumentation |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , , , , , , , , , , , , , |
In: | Journal of Instrumentation, 14, 2019, 5, S. C05003-C05003 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |