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A comparison of transmission electron microscopy methods to measure wetting layer thicknesses to sub-monolayer precision
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Physics: Conference Series |
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Personen und Körperschaften: | |
In: | Journal of Physics: Conference Series, 126, 2008, S. 012091 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |