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Comment on “Fundamental Resolution of Difficulties in the Theory of Charged Point Defects in Semiconductors”

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Physical Review Letters
Personen und Körperschaften: Chen, Wei, Pasquarello, Alfredo
In: Physical Review Letters, 120, 2018, 3
Format: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
American Physical Society (APS)
Schlagwörter: