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Variability in Scaled MOS Transistors: Present Status and Measures
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems |
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Personen und Körperschaften: | , , |
In: | IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems, 128, 2008, 6, S. 820-824 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Institute of Electrical Engineers of Japan (IEE Japan)
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Schlagwörter: |