Variability in Scaled MOS Transistors: Present Status and Measures

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Bibliographische Detailangaben

Zeitschriftentitel:	IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems
Personen und Körperschaften:	Hiramoto, Toshiro, Takeuchi, Kiyoshi, Nishida, Akio
In:	IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems, 128, 2008, 6, S. 820-824
Format:	E-Article
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	Institute of Electrical Engineers of Japan (IEE Japan)
Schlagwörter:	Electrical and Electronic Engineering