Electrical Width Determination of Silicon Nanowires Prepared by Using the Top-Down Method

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben

Zeitschriftentitel:	Journal of the Korean Physical Society
Personen und Körperschaften:	Lee, S J
In:	Journal of the Korean Physical Society, 55, 2009, 6, S. 2486-2490
Format:	E-Article
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	Korean Physical Society
Schlagwörter:	General Physics and Astronomy