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Characterization of Superconducting Tunnel Junction X-ray Detectors by Low Temperature Scanning Electron Microscopy

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Japanese Journal of Applied Physics
Personen und Körperschaften: Ohkubo, Masataka, Sakamoto, Isao, Hayashi, Nobuyuki, Martin, Jens, Panteleit, Friedhelm, Huebener, Rudolf
In: Japanese Journal of Applied Physics, 37, 1998, S2, S. 36
Format: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: