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Characterization of Superconducting Tunnel Junction X-ray Detectors by Low Temperature Scanning Electron Microscopy
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Japanese Journal of Applied Physics |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , |
In: | Japanese Journal of Applied Physics, 37, 1998, S2, S. 36 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |